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Curso subvencionado para trabajadores de CONTROL ESTADÍSTICO DE PROCESOS (SPC)

ENCLAVE FORMACIÓN
ENCLAVE FORMACIÓN

Curso subvencionado Presencial en Boecillo (Valladolid)

Precio: Gratuito para trabajadores

Resumen del curso subvencionado

Enclave Formación incorpora a su oferta formativa el siguiente programa cuyo objetivo del curso es: curso gratuito CONTROL ESTADÍSTICO DE PROCESOS (SPC) Método presencial en BOECILLO, MADRID Y MURCIA

Objetivos: Adquirir los conocimientos en relación a los fundamentos teóricos y utilizar la metodología del control estadístico de procesos (SPC).

Requisitos: Trabajadores del sector metal

A quién va dirigido: Esta acción formativa está dirigida prioritariamente a trabajadores del sector METAL por cuenta propia o por cuenta ajena y también hay plazas disponibles para desempleados.

Temario completo de este curso

1. ESTADÍSTICA BÁSICA
1.1. Definiciones.
1.2. Reducción de datos.
1.3. Distribuciones de frecuencia.
1.4. Descripciones estadísticas.
1.5. Probabilidades
1.6. Distribuciones de probabilidad.
1.7. Distribución normal.
1.8. Técnicas de representación gráfica.
1.9. Concepto de control de un proceso.
1.10. Variabilidad de los procesos.
2. GRÁFICOS DE CONTROL POR VARIABLES
2.1. Gráficos de medias y recorridos.
2.2. Gráficos de medias y desviaciones típicas.
2.3. Gráficos para mediciones individuales.
3. GRÁFICOS DE CONTROL POR ATRIBUTOS
3.1. Gráfico p.
3.2. Gráfico np.
3.3. Gráfico c.
3.4. Gráfico u.
4. ANÁLISIS DE PAUTAS DE COMPORTAMIENTO DE LOS GRÁFICOS CEP PARA SERIES CORTAS
4.1. El gráfico objetivo.
4.2. Contraste de similitud de recorridos.
4.3. Gráfico proporcional
4.4. Gráficos de mediciones individuales y recorridos móviles
5. CEP MÉTODOS AVANZADOS
5.1. Gráfico de control de media móvil.
5.2. Gráfico de control de media móvil geométrica.
5.3. Gráficos de medias, MM y MGM. Comparación.
5.4. Gráficos de características agrupadas.
5.5. Estudios de repetitividad y reproducibilidad de equipos.
5.6. Contrate de similitud de recorridos.
5.7 Contraste de Friedman.
6. CAPACIDAD DE PROCESOS
6.1. Índices de capacidad Cp.
6.2. Índices de capacidad Cpk.
6.3. Relación entre ambos.
6.4. Límites de confianza para Cpk.
6.5. Índices Cp y Cpk con gráficos objetivo.
 
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